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半導(dǎo)體清洗設(shè)備:芯片良率的重要保障

半導(dǎo)體清洗設(shè)備:芯片良率的重要保障


導(dǎo)讀:近幾年,全球半導(dǎo)體技術(shù)不斷更新迭代,對工藝技術(shù)的要求也日漸提高,尤其是對晶圓表面質(zhì)量要求愈發(fā)嚴(yán)格。在半導(dǎo)體芯片制造過程中,空氣、人體、廠房、生產(chǎn)設(shè)備、化學(xué)藥劑、輔助材料等,都會攜帶各種微塵、有機物、無機物和金屬離子等雜質(zhì)。這些雜質(zhì)會影響芯片良率、電學(xué)性能以及可靠性。人類經(jīng)常洗澡,以防止有害病菌和細菌的感染。同樣,納米級的晶圓需要反復(fù)清洗才能制造出完美的芯片。

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隨著特征尺寸的不斷縮小,半導(dǎo)體對雜質(zhì)含量越來越敏感,制造和封裝中不可避免會引入污染物。


對于微觀尺度的半導(dǎo)體工藝,晶片表面上的任何顆粒、金屬碎片、有機物、自然形成的氧化層和痕量雜質(zhì)都會導(dǎo)致圖案缺陷和電性能的惡化。

而小顆??赡茈y以去除,因為顆粒和晶片襯底之間存在強靜電力。這些問題會損害半導(dǎo)體產(chǎn)量和可靠性。在目前的集成電路生產(chǎn)中,由于晶圓片表面沾污問題,導(dǎo)致50%以上的材料被損耗掉和80%的芯片電學(xué)失效。


因此,清洗技術(shù)是貫穿芯片制造的重要工藝環(huán)節(jié)。


何為“清洗”

清洗是通過化學(xué)處理、氣體或物理方法去除晶片表面雜質(zhì)的過程。通常在工藝之間進行,用于去除芯片制造中上一道工序所遺留的超微細顆粒污染物、金屬殘留、有機物殘留物,去除光阻掩膜或殘留,也可根據(jù)需要進行硅氧化膜、氮化硅或金屬等薄膜材料的濕法腐蝕,為下一步工序準(zhǔn)備好良好的表面條件。


清洗是重復(fù)進行的,使其進行的次數(shù)大約是其他過程的兩倍甚或更多,并作為過程之間的橋梁。


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▲清洗工藝



晶圓清洗步驟數(shù)量約占所有芯片制造工序步驟30%以上,而且隨著節(jié)點的推進,清洗工序的數(shù)量和重要性會繼續(xù)提升,清洗設(shè)備的需求量也將相應(yīng)增加。在80~60nm的工藝制程中,清洗工藝約有100個步驟,而當(dāng)工藝節(jié)點來到20nm以下時,清洗步驟增加至200道以上。而越往下走,要得到較高的良率,幾乎每步工序都離不開清洗。據(jù)盛美公司估計,每月十萬片的DRAM工廠,1%的良率提升可為客戶每年提高利潤3000-5000萬美元。

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濕法清洗&干法清洗


根據(jù)清洗介質(zhì)的不同,目前半導(dǎo)體清洗技術(shù)主要分為濕法清洗干法清洗兩種工藝路線。

濕法清洗是針對不同的工藝需求,采用特定的化學(xué)藥液和去離子水,對晶圓表面進行無損傷清洗,以去除晶圓制造過程中的顆粒、自然氧化層、有機物、金屬污染、犧牲層、拋光殘留物等物質(zhì),可同時采用超聲波、加熱、真空等輔助技術(shù)手段。

干法清洗是指不使用化學(xué)溶劑的清洗技術(shù),主要包括等離子清洗、超臨界氣相清洗、束流清洗等技術(shù)。干法清洗主要是采用氣態(tài)的氫氟酸刻蝕不規(guī)則分布的有結(jié)構(gòu)的晶圓二氧化硅層,雖然具有對不同薄膜有高選擇比的優(yōu)點,但可清洗污染物比較單一,目前在28nm及以下技術(shù)節(jié)點的邏輯產(chǎn)品和存儲產(chǎn)品有應(yīng)用。

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▲濕法&干法清洗對比

晶圓制造產(chǎn)線上通常以濕法清洗為主,少量特定步驟采用濕法和干法清洗相結(jié)合的方式互補所短,構(gòu)建清洗方案。未來清洗設(shè)備的濕法工藝與干法工藝仍將并存發(fā)展,均在各自領(lǐng)域內(nèi)向技術(shù)節(jié)點更先進、功能多樣化、體積小、效率高、能耗低等方向發(fā)展,在短期內(nèi)濕法工藝和干法工藝無相互替代的趨勢。目前濕法清洗是主流的清洗技術(shù)路線,占芯片制造清洗步驟數(shù)量的90%以上。

批量清洗&單硅片清洗

在濕法清洗工藝路線下,目前主流的清洗設(shè)備主要包括單片清洗設(shè)備、槽式清洗設(shè)備、組合式清洗設(shè)備和批式旋轉(zhuǎn)噴淋清洗設(shè)備等。

槽式批量清洗,就是把硅片浸沒在化學(xué)溶劑或者超純水的方式,一般一批處理20-50片硅片,槽式清洗具備良好的設(shè)備穩(wěn)定性、高處理性能和批量生產(chǎn)的高生產(chǎn)率,可以清除金屬、材料及微粒子。槽式清洗的批量生產(chǎn)效果好,但交叉污染風(fēng)險較大。


▲槽式批量清洗


單硅片清洗,這是把液體或者氣體射擊在旋轉(zhuǎn)的一張硅片上去除各種雜質(zhì),一次就處理一張硅片,可以減少材料損傷,防止晶片結(jié)構(gòu)損傷,清除交叉污染 ,改善晶圓可靠性,但是設(shè)備產(chǎn)能較低,成本較大。


▲單硅片清洗


在90-65nm工藝中,為節(jié)約成本、提高效率,通常以槽式設(shè)備清洗為主;而在更低線寬nm級工藝中,對雜質(zhì)的容忍度較低,工藝越先進,單片清洗技術(shù)的占比往往越高。因此先進制程中,單片清洗逐漸取代槽式批量清洗,并且占據(jù)最高的市場份額。


清洗設(shè)備占據(jù)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈核心地位,直接影響芯片良率和芯片產(chǎn)品性能


在芯片制造中,不可避免地會產(chǎn)生或者接觸到各種雜質(zhì),為最大限度地減少雜質(zhì)對芯片良率的影響,在芯片制造的各個環(huán)節(jié)均設(shè)置了清洗工序,針對不同的工藝需求對晶圓表面進行無損傷清洗以去除半導(dǎo)體制造過程中的顆粒、自然氧化層、金屬污染、有機物、犧牲層、拋光殘留物等雜質(zhì)的工序,為最大限度地減少雜質(zhì)對芯片良率的影響,確保芯片產(chǎn)品性能,清洗步驟數(shù)量約占所有芯片制造工序步驟的30%以上,而且隨著技術(shù)節(jié)點的繼續(xù)進步,對清洗設(shè)備的需求量也將相應(yīng)增加。

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